A Bell Labs kutatói kifejlesztettek egy olyan módszert, amellyel bepillantást lehet nyerni a félvezetők legkisebb mikroszkópikus, belső elemeibe, és meg lehet figyelni egy egyetlen atom méretű szennyeződést.

Mindez lehetővé teszi, hogy a kutatók megértsék, miként befolyásolják a szennyezőanyagok a mikrochipek tulajdonságait, állítják a Lucent Technologies kutatási és fejlesztési részlegeként működő Bell Labs szakértői. A félvezetők működésének atomi szinten való megértése kritikus fontosságú azokhoz az új gyártási technológiákhoz, amelyekkel a chipek mérete a jövőben tovább csökkenthető, Moore törvénye pedig a jövőben is betartható lesz.

Mint ismeretes, Gordon Moore, az Intel társalapítója 1965-ben megjósolta, hogy a chipek teljesítménye, illetve a bennük található tranzisztorok száma 18 - 24 havonta meg fog duplázódni.

A Bell Labs kutatói szerint a mostani az első eset, hogy egy különálló szennyezőatomról eredeti állapotában sikerült felvételt készíteni a félvezetőkristályban. A felvétel egyébként egy speciális elektronmikroszkóppal készült, és olyan felbontóképességet igényelt, mintha a Holdon kellene megfigyelni egy emberi lábnyomot, közölték a szakértők.

A kutatási eredményről a Nature magazin csütörtöki száma számolt be.

Ahogy a chipek mérete egyre kisebbé válik, elengedhetetlen, hogy a kutatók képet alkothassanak a félvezetők atomi szintű felépítéséről, és a legapróbb részletekre is kiterjedően megérthessék azok működését. A mostani eredmények a Bell Labs szerint lehetőséget adnak a kutatóknak, hogy megállapítsák, meddig lehet még csökkenteni a chipekben lévő tranzisztorok és összeköttetések méretét.

A szennyezőanyagok feladata a szilíciumkristály elektromos tulajdonságainak megváltoztatása, illetve a töltések hordozása. Mivel azonban a chipekben található tranzisztorok egyre kisebbek lesznek, hamarosan elérhet a technológia oda, hogy alig néhány szennyező atom fogja kialakítani az adott kristály funkcióját.