postmortem#26
Ha már ennyire érdekel...
Az Atomi Erő mikrószkóp, vagy más néven AFM egy olyan szerkezet amiben egy igen finom mechanikával/elektronikával ( legtöbbszöt piezocsövekkel ) ellátott dokkoló egységre akasztott tűszondát tolnak a minta közelébe. A szonda egy laprugónak is mondható lemez végére van ráültetve és tipikusan nanométeres méretű. A laprugó hátoldálára egy monokromatikus ( LASER ) fénynyalábot fókuszálnak, aminek reflexiója egy 4 darabból álló fénydetektorra érkezik. Alap esetben a fénypont a 4 kvadráns közepén van ezért a detektorok által adott feszültségjel kiegyenlíti egymást. A minta és a tűszonda kölcsönhatását a fénynyaláb elmozdulása, vagyis a feszültségértékek megváltozása jelzi.
Különféle szkennelési technikák léteznek az egyik legalapvetőbb a kontakt mód. Kontakt módban a szondát gyakorlatilag belenyomják a minta felületébe és végigkaristolják. A mikroszkóp megpróbálja a szondát a minta felületén tartani, ezáltal kb letapogatja azt. Azért csak hozzávetőlegesen, mert a kölcsönhatás mértéke a minta felületétől is függ. Ha az nem homogén, akor egy esetleges keményebb résznél a szonda úgy érzékeli, hogy ott egy "domb" található.
A pásztázó alagút mikroszkópia hasonló pasztázi technika azzal a klönbséggel, hogy a minta és a tű nem érintkezik, viszont mindkettőnek vezetőnek kell lennie. A tűre és a mintarögzítőre ( vagyis a mintára is ) feszültség különbséget kapcsolnak és közelítik a tűt a minta felé. Ha a távolság elég kicsi és megfelelőek a paraméterek a minta és a tű között alagútáram jön létre. Az alagútáram lesz a kontroll jel és letapogatják a felületet állandó alagútáram mellett. Persze itt is igaz, hogy valós topográfiát csak akkor kaphatunk ha a minta homogén.